Optical HW

광학 HW

분석 소프트웨어

Photometrica

˙

기본 Software – Photometrica


계측기와 함께 구성되는 Photometrica 소프트웨어는 기본 측정, 분석, 리포트 생성 기능을 제공하며, 아래의 여러 측정 및 분석값을 산출할 수 있습니다.

Luminance, Illuminance, Luminous Intensity, Luminous Flux 
Radiance, Spectral Radiance, Irradiance 
Radiant Intensity, Radiant Flux  
CIE Chromaticity Coordinates (xy and u’v’), ΔE*ab 
Correlated Color Temperature (CCT), Purity
Dominant Wavelength, Contrast  
Gamma and gamma inversion  
픽셀기반 사용자 측정 분석 수식 지원

Specialized Software Package


기본 제공되는 Photometrica 소프트웨어 이외에 다양한 어플리케이션별로 특화된 아래의 분석 소프트웨어 패키지가 추가로 제공됩니다.

WP Analysis - 분석

˙




Pseudo-color Rendering 



최적화된 시각적 프레젠테이션의 데이터 맵 특징

  • 워크스페이스창의 오른쪽에 있는 온도계는 휘도와 같은 활성 측정 구성 요소의 스케일 및 색상 매핑 체계를 표시합니다.
  • 색도 및 휘도 구성 요소가 있는 색상 측정이 활성화되면 해당 측정의 RGB 렌더링이 표시됩니다.
  • 작업 공간에서 커서를 이동하면 이동 수준 표시기가 온도계의 커서 끝에서 픽셀 값을 추적합니다.
  • 색상 맵 범위 값은 온도계에서 가장 높은 값과 가장 낮은 값을 위 또는 아래로 이동 및 일시적으로 조정할 수 있습니다.
  • 프레젠테이션 창에서 매핑 색상 및 배율을 구성하고 저장할 수 있습니다.







Area of Interest (AOI)




관심 영역(AOI)은 특정 위치에 있는 픽셀 영역입니다. 픽셀 집합은 직사각형과 같은 독특한 모양이나 미세 조정과 같은 프로세스로 정의될 수 있습니다.

AOI의 픽셀은 연결할 필요없이 생성과 동시에 AOI의 속성을 AOI 테이블에 표시합니다.

 




Highlights








Refinement



관심 영역을 정확하게 정의하기 위해 정교한 미세 조정 방법을 사용하여 휘도 또는 색상 특성을 기반으로 측정 영역을 분할할 수 있습니다. 

예를 들어, 미세 조정은 포함 기준을 정의하는 간단한 최소 또는 최대 휘도 임계값, 색상 영역 또는 사용자 정의 공식을 기반으로 할 수 있으며

Erode 및 Min Area로 2차 미세 조정 매개변수로 지정할 수 있습니다. 

세분화가 생성되면 각 측정 후 측정을 AOI로 분할하기 위해 자동으로 적용되도록 설정할 수 있습니다.

 




Area of Interest (AOI)




관심 영역(AOI)은 특정 위치에 있는 픽셀 영역입니다. 픽셀 집합은 직사각형과 같은 독특한 모양이나 미세 조정과 같은 프로세스로 정의될 수 있습니다.

AOI의 픽셀은 연결할 필요없이 생성과 동시에 AOI의 속성을 AOI 테이블에 표시합니다.

 



Computed Measurements 



이미징 색도계 및 광도계의 경우 표준 계산 측정값에는 x, y, u', v', CCT, 주요 파장 및 순도가 포함됩니다. 

다음을 포함하여 픽셀 단위 계산을 사용하여 사용자 정의 측정을 만듭니다.

  • Illuminance
  • Luminous Intensity
  • Luminous Flux
  • ΔE*ab
  • Contrast
  • Gamma







Color Space




색 공간 창에 CIE 1931(x, y) 또는 CIE 1976(u', v') 색 공간을 표시합니다. 

이 창에서 사용자는 다음을 수행할 수 있습니다.


  • 여러 AOI에서 여러 색상 측정의 평균 색상 좌표 또는 픽셀 분포를 플로팅합니다.
  • 합격/불합격을 평가하는 데 사용할 수 있는 특정 색상 영역 지정 및 플롯
  • 빨간색, 녹색 및 파란색의 측정값을 기반으로 테스트 중인 장치의 측정된 색 영역 표시








Line Profiles 




  • Photometrica 소프트웨어의 프로파일 도구를 사용하여 작업 공간 창에서 선 그리기 
  • 선은 수평, 수직 또는 임의의 방향일 수 있습니다.
  • 여러 정점이 있는 세그먼트 선
  • 프로파일 창  에 라인 선택을 추가하고  모든 측정에 대해 플롯 할 수 있습니다.
  • 프로파일 그래프에 데이터를 중첩하기 위해 다중 선택이 가능합니다.
  • 프로파일 그래프 위로 마우스를 이동하면 측정 창에서 해당 커서가 편리하게 활성화됩니다. 
  • 그래프 스케일은 대수, 선형, 정규화 및 확대/축소 가능
  • 프로파일 너비는 프로파일을 따라 각 지점에서 평균값을 계산하도록 사용자 설정 가능
  • Boxcar 스무딩을 사용하여 프로필의 노이즈 제거








Isolines 



모든 측정에 대해 오버레이에 등고선을 표시합니다. 윤곽선은 다른 측정이 활성화된 경우 지속되도록 설정할 수 있습니다. 

예를 들어 백색 휘도 측정을 보는 동안 1000:1 명암비 윤곽선(계산된 대비 측정에서)이 활성화될 수 있습니다.

  








Histograms 


히스토그램을 사용하여 데이터 분포를 분석할 영역 및 측정값을 선택합니다. 기능에는 두 축 및 최대 500개 빈에 대한 다중 커서, 로그 또는 선형 스케일링이 포함됩니다. 

또한 히스토그램을 사용하여 직접 미세 조정을 생성하고 임계값을 배치할 위치에 대한 데이터 기반 결정을 내립니다.






Pass Fail Analysis 


대부분의 생산 애플리케이션에는 부품이 생산 프로세스의 다음 단계로 넘어가기 위해 통과해야 하는 사양 합격/불합격 메트릭이 필요합니다. 

이러한 유형의 분석은 최종 제품의 품질과 프로세스 전반의 효율성을 보장합니다. 

Photometrica Software는 임계값을 계산하고 합격/불합격 정보와 함께 결과를 출력하는 다양한 방법을 통합합니다. 


보고의 몇 가지 예는 다음과 같습니다.

  • 작업 공간 창의 의사 색상 매핑 
  • 작업 공간 창의 색상 강조 영역 또는 AOI 
  • 불리언 통과 실패 및  AOI 테이블의 강조 표시
  • 불리언 통과 실패 및  평가 창에서 강조 표시
  • 색상 공간 창에서 색상 포인트 및 색상 영역 매핑







Surface Plots 


활성 측정에 대한 선택 항목의 3차원 표현을 플로팅합니다. 기본적으로 플롯의 범위는 활성 선택 영역에 의해 결정되며 선택 영역이 없으면 전체 측정값이 표시됩니다. 

활성 측정 또는 선택이 변경될 때마다 표면 플롯이 새로 고쳐집니다.






Meta Data/Plotting


WP Photometrica의 강력한 기능으로 여러 측정값을 문서에 나타낼 수 있습니다.

이 기능의 유용한 예는 다양한 시간, 전압 또는 그레이 레벨에서 장면을 측정하는 것입니다. 

활성화할 측정을 선택하고 해당 데이터를 표시합니다. 

또한 Photometrica Software의 고유한 기능은 메타 플롯 창을 사용하여 여러 측정에 걸쳐 AOI 내의 데이터를 플롯하는 기능입니다. 

메타 플롯에서 수평 축(독립 변수)은 측정 간에 변경되는 고유한 메타 측정 변수(예: 시간, 전압, 그레이 레벨)입니다. 또한 모든 AOI 통계를 그릴 수 있습니다. 

이러한 방식으로 소프트웨어 내에서 복잡한 데이터 세트를 쉽게 분석할 수 있습니다.




Display Testing SW


컬러 포인트, 휘도, 균일도, 색도 및 감마 등 디스플레이 특성 평가 SW 
생산라인용 모드 제공 


Graphic Testing SW 


자동차 내장 컴포넌트 조명 분석 SW 
매우 정교한 그래픽 가장자리, 그래픽 영역, 평균 휘도 및 색도의 분석 


Uniformity Spots Testing SW 


컬러 포인트, 휘도, 균일도, 색도 및 감마 등 디스플레이 특성 평가 SW 
생산라인용 모드 제공 


Beam Pattern SW 


광원의 빔 패턴 분석 SW 
투과 혹은 반사형 스크린을 이용한 테스트 설정 
광도, 조도 분포 데이터


Light Plate Balancing SW 


항공용 패널의 백라이트 휘도 실시간 2D 분석 SW
실시간 Visual 피드백 기능 제공 


Styling Line Testing SW 


자동차 및 건축 조명의 선형 조명 요소 균일도 분석 SW 
정교한 AOI (Area Of Interest) 설정 기능 

문의하기

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