Optical HW
광학 HW
Photometrica
분석 소프트웨어
˙
디스플레이 평가
![]() | 컬러 포인트, 휘도, 균일도, 색도 및 감마 등 디스플레이 특성 평가 |
![]() | 생산라인용 모드 제공 |
그래픽 평가
![]() | 자동차 내장 컴포넌트 조명 분석 |
![]() | 그래픽 가장자리, 그래픽 영역, 평균 휘도 및 색도의 분석 |
균일도 스팟
![]() | 컬러 포인트, 휘도, 균일도, 색도 및 감마 등 디스플레이 특성 평가 |
![]() | 생산라인용 모드 제공 |
빔 패턴
![]() | 광원의 빔 패턴 분석 SW |
![]() | 투과 혹은 반사형 스크린을 이용한 테스트 설정 |
![]() | 광도, 조도 분포 데이터 |
라이트 플레이트 밸런싱
![]() | 항공용 패널의 백라이트 휘도 실시간 2D 분석 |
![]() | 실시간 Visual 피드백 기능 제공 |
스타일링 라인 평가
![]() | 자동차 및 건축 조명의 선형 조명 요소 균일도 분석 |
![]() | 정교한 AOI (Area Of Interest) 설정 기능 |
Photometrica
분석 소프트웨어
˙
![]() | ![]() |
![]() | ![]() |
![]() | ![]() |
디스플레이 평가
Display Testing
색도, 휘도, 균일성, 색재현율 및 감마와 같은 복잡한 디스플레이 특성을 테스트합니다. 생산 모드를 포함하는 솔루션으로 업계 표준을 충족하고, 최고 품질을 보장하며, 중대한 제조 결함을 확인합니다.
주요 특징
![]() | 성능 테스트에는 휘도 균일성, 색상 균일성, 감마, 색재현율, 대비가 포함 |
![]() | 결함 테스트에는 밝은/ 어두운 스팟, 수직/ 수평 라인, 클라우드/ 엣지/ DFF 블랙 무라가 포함 |
![]() | 테스트 대상 장치 (DUT) 제어 기능 |
![]() | 프로덕션 모드를 포함하여 자동화된 방식으로 테스트 실행 |
![]() | 여러 디스플레이를 자동으로 인식 및 연결 |
![]() | SDK로 사용자 확장 가능 |
![]() | 불규칙한 디스플레이 모양 지원 |
![]() | 여러 디스플레이에서 테스트 뷰 동시 실행 |
그래픽 평가
Graphic Testing
향상된 AOI 영역 세분화 및 분석 기능을 통해 자동차 내부 조명 구성 요소의 균일도와 일관성을 정확하게 테스트합니다.
생산 및 R&D 측정에 대한 품질에 대한 고객 요구 사항을 충족하는지 확인합니다.
주요 특징
![]() | 그래픽 에지, 그래픽 영역, 평균 휘도 및 색도의 매우 정확한 추정 |
![]() | 사용자 구성 가능한 보고 테이블 |
![]() | 대상, 전환 및 배경 영역에 대한 통계 |
![]() | 자동 분석 및 보고 |
균일도 스팟
Uniformity Spot
여러 위치에서 측정해야 하는 생산 애플리케이션을 위해 빠르고 쉽게 측정 구현이 가능합니다.
테스트 영역을 자동으로 정렬하고 균일성 값과 x,y,u',v' 및 휘도 범위를 식별하고 평가합니다.
주요 특징
![]() | 한 번에 하나 이상의 디스플레이 균일도 평가 |
![]() | AOI의 사용자 정의 패턴 생성 |
![]() | 최소 및 최대 휘도 위치 강조 표시 |
![]() | 퍼센트 균일도와 같은 메트릭 평가 |
![]() | DFF 스팟 스캔 균일도 |
![]() | 빠른 테스트 시간 |
빔 패턴
Beam Pattern
반사 및 투과 스크린 테스트 설정을 포함하여 광원이 스크린을 비출 때 생성되는 빔 패턴을 정확하게 측정합니다.
일반적인 측정으로 광도 및 조도 분포가 포함됩니다.
주요 특징
![]() | 고해상도 Typically 0.01° |
![]() | 빠른 측정 및 분석 |
![]() | 테스트 포인트의 표준 또는 맞춤형 배열 |
![]() | Pass/ Fail 분석 |
![]() | 메뉴 기반 설정 및 측정 |
![]() | 다양한 측정 형상 지원 |
![]() | IES 또는 CSV 파일 형식으로 내보내기 |
라이트 플레이트 밸런싱
Light Plate Balancing
항공 전자 패널 제조에 필요한 백라이트 휘도 판독을 실시간으로 할 수 있습니다.
이미징 광도계 및 색도계를 통해 제공된 정보를 사용하여 광 분포가 사양 내에 있는지 쌍방향으로 패널을 식별합니다.
주요 특징
![]() | 간소화된 사용자 인터페이스 |
![]() | 고정 프로덕션 애플리케이션을 위한 잠금 가능 작업 공간 |
![]() | fL 또는 cd/m² 단위로 작업 |
![]() | 최대 10Hz의 측정 속도 |
스타일링 라인 평가
Styling Line Testing
직선 또는 곡선 조명 요소에 대한 빠르고 구현 가능한 분석을 제공합니다.
차량 및 건축 조명에서 흔히 볼 수 있는 선형 조명 요소의 균일성을 평가하는 데 도움이 됩니다.
주요 특징
![]() | 정의된 경로를 따라 신속하게 AOI 생성 |
![]() | 측정 위치 재현 가능 |
![]() | 빠른 설정을 위한 2단계 프로세스 |
Specialized Software Package
기본 제공되는 Photometrica 소프트웨어 이외에 다양한 어플리케이션별로 특화된 아래의 분석 소프트웨어 패키지가 추가로 제공됩니다.
Optical HW
광학 HW
분석 소프트웨어
Photometrica
![]() | ![]() | ![]() |
디스플레이 평가 | 그래픽 평가 | 균일도 스팟 |
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![]() | ![]() | ![]() |
빔 패턴 | 라이트 플레이트 밸런싱 | 스타일링 라인 평가 |
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디스플레이 평가
Display Testing
색도, 휘도, 균일성, 색재현율 및 감마와 같은 복잡한 디스플레이 특성을 테스트합니다.
생산 모드를 포함하는 솔루션으로 업계 표준을 충족하고, 최고 품질을 보장하며, 중대한 제조 결함을 확인합니다.
주요 특징
![]() | 성능 테스트 - 휘도 균일성, 색상 균일성, 감마, 색재현율, 대비 등 |
![]() | 결함 테스트 - 밝은/어두운 스팟, 수직/수평 라인, 클라우드/엣지/DFF블랙 무라 등 |
![]() | 테스트 대상 장치 (DUT) 제어 기능 |
![]() | 프로덕션 모드를 포함하여 자동화된 방식으로 테스트 실행 |
![]() | 여러 디스플레이를 자동으로 인식 및 연결 |
![]() | SDK로 사용자 확장 가능 |
![]() | 불규칙한 디스플레이 모양 지원 |
![]() | 여러 디스플레이에서 테스트 뷰 동시 실행 |
그래픽 평가
Graphic Testing
주요 특징
![]() | 그래픽 에지, 그래픽 영역, 평균 휘도 및 색도의 매우 정확한 추정 |
![]() | 사용자 구성 가능한 보고 테이블 |
![]() | 대상, 전환 및 배경 영역에 대한 통계 |
![]() | 자동 분석 및 보고 |
균일도 스팟
Uniformity Spot
여러 위치에서 측정해야 하는 생산 애플리케이션을 위해 빠르고 쉽게 측정 구현이 가능합니다.
테스트 영역을 자동으로 정렬하고 균일성 값과 x,y,u',v' 및 휘도 범위를 식별하고 평가합니다.
주요 특징
![]() | 한 번에 하나 이상의 디스플레이 균일도 평가 |
![]() | AOI의 사용자 정의 패턴 생성 |
![]() | 최소 및 최대 휘도 위치 강조 표시 |
![]() | 퍼센트 균일도와 같은 메트릭 평가 |
![]() | DFF 스팟 스캔 균일도 |
![]() | 빠른 테스트 시간 |
빔 패턴
Beam Pattern
주요 특징
![]() | 고해상도 Typically 0.01° |
![]() | 빠른 측정 및 분석 |
![]() | 테스트 포인트의 표준 또는 맞춤형 배열 |
![]() | Pass/ Fail 분석 |
![]() | 메뉴 기반 설정 및 측정 |
![]() | 다양한 측정 형상 지원 |
![]() | IES 또는 CSV 파일 형식으로 내보내기 |
라이트 플레이트 밸런싱
Light Plate Balancing
주요 특징
![]() | 간소화된 사용자 인터페이스 |
![]() | 고정 프로덕션 애플리케이션을 위한 잠금 가능 작업 공간 |
![]() | fL 또는 cd/m² 단위로 작업 |
![]() | 최대 10Hz의 측정 속도 |
스타일링 라인 평가
Styling Line Testing
주요 특징
![]() | 정의된 경로를 따라 신속하게 AOI 생성 |
![]() | 측정 위치 재현 가능 |
![]() | 빠른 설정을 위한 2단계 프로세스 |
기본 Software – Photometrica
계측기와 함께 구성되는 Photometrica 소프트웨어는 기본 측정, 분석,
리포트 생성 기능을 제공하며, 아래의 여러 측정 및 분석값을 산출할 수 있습니다.
Luminance, Illuminance, Luminous Intensity, Luminous Flux | |
![]() | Radiance, Spectral Radiance, Irradiance |
![]() | Radiant Intensity, Radiant Flux |
![]() | CIE Chromaticity Coordinates (xy and u’v’), ΔE*ab |
Correlated Color Temperature (CCT), Purity | |
Dominant Wavelength, Contrast | |
![]() | Gamma and gamma inversion |
![]() | 픽셀기반 사용자 측정 분석 수식 지원 |
Specialized Software Package
기본 제공되는 Photometrica 소프트웨어 이외에 다양한 어플리케이션별로
특화된 아래의 전문 분석 패키지가 옵션으로 추가 제공됩니다.
Software Package 종류 | 자동차 | 우주/항공 | Flat 패널 | AR/VR | Lighting |
Display Testing | ● | ● | ● | ● | |
Graphic Testing | ● | ● | ● | ● | |
Uniformity Spots | ● | ● | ● | ● | ● |
Beam Pattern | ● | ● | ● | ||
Lighting Plate Balancing | ● | ||||
Styling Line Testing | ● |
(주)래디언트솔루션│ 대표 : 김지형
사업자등록번호 : 109-86-35931
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